近几年，随着机械，电子和光学行业的快速开展，对精密加工外表的质量要求越来越高，使得粗糙度轮廓的测量越来越重要。激光核聚变驱动器，磁盘，光盘，X射线光学仪器组件，大功率激光窗和同步加速器元件的粗糙度轮廓要求已达到纳米级要求。

　　这些需求也极大地促进了粗糙度轮廓仪技术的开展。轮廓仪粗糙度仪粗糙度轮廓仪技术的未来方向是什么？现代科学技术的许多范畴对外表质量提出了更高的要求。一方面，现有的惯例检测办法无法满足测量精度的要求，尤其是近年来纳米技术的出现和逐渐普及与使用。

　　改进了对粗糙度轮廓的测量要求，而且向更精密和精确的方向开展了粗糙度轮廓仪技术。另一方面，杂乱的三维形状加工技术的开展也对三维粗糙度轮廓仪的开展提出了新的要求。

　　已经在正常截面的轮廓上评价了长时间内粗糙度轮廓的表征参数，仅反映了高度和横向间隔之间的联系。它属于“二维”评价；但是，在小范围内评价检查对象的粗糙度轮廓的情况下，也应考虑纵向间隔的联系，经过“三维”评价粗糙度轮廓是可行的。

　　电子技术，计算机技术和精密加工技术的开展为粗糙度轮廓仪的进一步开展供给了技术基础。1980年代出现的原子力显微镜（AFM），扫描隧道显微镜（STM），扫描办法光学显微镜（SNOM），光子扫描隧道显微镜（PSTM）等是粗糙度轮廓仪的一个有期望的方向。

　　别的，在科学研究和生产实践的许多范畴中，曩昔的后处理采样测量不再能满足要求，这需求可以在线测量的新测量办法。超高精度外表的高精度测量，3D粗糙度轮廓仪和在线实时测量成为未来粗糙度测量的主要方向。